X射线无损检测方案根据根据客户对检测精度、速度、自动化程度需求，主要分两类：

一类是检测精度要求高，检测速度要求低、人工识别，检测内容涉及检查焊缝、重要零部件（飞机、导弹、汽车）缺

陷、实验室分析、集成电路板焊点检测等领域，可采用以下方式：

稀土闪烁屏+高精度高灵敏CCD

影像增强器+高精度高灵敏CCD

非晶硅或非晶硒平板探测器

一类是在生产线上在线检测工件，检测速度（效率）要求高，能通过计算机自动标定缺陷位置或自动剔除不合格产

品。在工厂生产自动化程度越来越高的情况下，配合自动生产线检测工件，应用领域非常广。可采用以下方式：

影像增强器+高精度高灵敏CCD

线性二极管阵列扫描

CMOS阵列扫描

方案一：非晶硅或非晶硒平板探测器。

在医用领域运用较多，在工业检测领域主要应用在集成电路焊点检测和飞机零部件检测等，检测速度很低，检测精度

高，价格昂贵，使用环境要求严格。不适合流水线在线检测。方案一目前在工业无损检测中使用的比较少，主要约束

原因是其价格昂贵，检测速度慢。

方案二：稀土闪烁屏（或图像增强器）+高精度高灵敏CCD。

方案二技术较成熟，目前市场上现有的图像增强器所采用的CCD系统都是768×576，8bit的，在图像分辨率以及对比度

的指标上达不到本系统的要求。但是使用了性能较高的新型CCD后，整体系统性能可以大大提高，具体参考下表，符合

多数工业在线检测的要求。既能用于流水线检测又能进行精细检测。因为该方案成本较低，是常规无损检测领域应用

广泛的一种方案。但因为检测精度和检测速度无法同时保证，因此在检测速度较慢时，可以检测非常精细的缺陷（例如

焊缝检测）；在检测速度较快时（自动化流水线上），图像质量较差，实现自动识别难度较大，在自动化检测领域应用

较少。

方案三：线阵列探测器扫描。

方案三采用线性二极管阵列或CMOS线阵列探测器，技术，分立元件之间的互相干扰极小，图像分辨率很高，动态范

围可以和胶片媲美，使得整体的性能非常高。它的成像速度较快，适合于移动速度≤1m/s的流水线，在工件平移的同时

生成透视图像。但是，CMOS线阵列探测器的成本较方案二要高出很多。价格较贵，一般用于流水线检测。因其检测效率

和检测精度都较高，是目前自动化检测领域运用多的一种方案。

项目方案一方案二方案三

探测器类型非晶硅平板探测器非晶硒平板探测器图像增强器+CCD稀土闪烁屏+CCD二极管阵列扫描探测器CMOS阵列

扫描探测器

X光机焦点无要求微焦点（≤0.1mm）小焦点（≤1mm）无要求

X光机造价低贵低

成像面积300mm＊400mmф65mm~145mm80mm~1800mm宽长度不限

图像分辨率7像素/mm，3~6Lp/mm6象素/mm，2.5~3Lp/mm12象素/mm，6Lp/mm

动态范围12~16bit8~10bit12bit

图像获取速度0.1~0.3帧/秒25~50帧/秒800线/秒

检测速度7/min≤,一般适用静止状态检测17/min，需要物体被检测时静止60/min

检测效率低中高

运动方式静止间歇性连续性

适用流水线否能能

信噪比>100dB>33dB>100dB

灵敏度高一般高

探测器造价昂贵适中较贵

自动化检测否能（但检测效率会降低）能

特点精度高，速度低，价格贵各项均衡，性能一般精度高，速度快，价格较贵

我公司是国内唯一具有集X射线探测、数字图像处理和机器视觉自动识别为一体的专业X射线无损检测设备设计生产单

位。独有的X射线机器视觉自动识别技术，使得X射线无损检测能够适应流水线自动化检测。

在线自动化X射线无损检测系统有以下优点：

检测效率高

检测精度准

运行成本低

全自动工作流程

全自动X射线无损检测可应用于各个领域。我们将根据客户的要求，进行量身定做，做到“不求贵，但求”，在

达到自动化检测目的同时，尽可能的降低设备成本，使得性价比大化。

用户只需要提出检测要求，在现有X射线检测技术能涉及的范围内，我们都能提供合适的多套方案供用户选择。从方

案设计、产品生产、安装调试、培训、售后服务，我公司将为用户提供物超所值得一条龙服务。

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